簡要描述：v作為現成的測量解決方案，PD1500A可以對寬帶隙半導體進行可靠且可重復的測量

v 作為現成的測量解決方案，PD1500A 可以對寬帶隙半導體進行可靠且可重復的測量。 該平臺不僅可以確保用戶的安全性，還能夠保護系統的測量硬件

v 能夠可靠、可重復測量寬帶隙（SiC、GaN）功率半導體的動態特征

v 測量的特征包括開啟、關閉、開關切換、反向恢復、柵極電荷以及其他許多特征

v 同時滿足被測器件和用戶對測試環境的要求

v 模塊化平臺可擴展、可升級，能夠對所有功率器件進行測試

v 這種確保 DPT 結果可重復的能力依托于是德科技的專業測量技術， 例如在高頻測試（GHz 級）、低泄漏（飛安級）和脈沖功率（1,500 A 電流、10 μs 分辨率）等方面的創新。 這些創新使是德科技占據優勢，可以有力地幫助您克服在動態功率半導體表征方面的挑戰

v PD1500A 采用的均是標準的測量技術，例如探頭補償、偏置調整、偏移校正和共模噪聲抑制。 這些技術已在創新的測量拓撲和版圖中使用。 另外，我們專門為本系統開發了半自動校準例程（AutoCal），用于校正系統增益和偏置誤差。 該系統還使用去嵌入技術來補償分流器中的電感寄生效應